EduLikeEduLike
Czego szukasz?
Lokalizacja...

Analiza systemu pomiarowego (MSA) oraz statystyczne sterowanie procesem (SPC)

Kategoria: MetrologiaCzas trwania: 1 dzieńTyp: Szkolenie grupoweCena: do uzgodnienia
IGEL Paweł Wysk, Inżynieria, Automatyka i Robotyka, Elektronika, Metrologia
IGEL Paweł Wysk
(0 opinii)
Inżynieria
Automatyka i RobotykaElektronikaMetrologia

Opis szkolenia

Termin szkolenia: 28.10.2020
Czas trwania: 8:30- 15:30
Miejsce: ul, Herbowa 11, 62-070 Dąbrówka
Cena: 700 zł/os (netto) PROMOCJA!

Program i ćwiczenia:
Wprowadzenie do MSA
Pomiary i przyczyny błędów pomiarowych
Wymagania norm dotyczące analizy MSA
Analiza zdolności dla wartości mierzalnych( Procedura 1,2,3)
Analiza zdolności dla wartości niemierzalnych( metoda detekcji sygnałów, metoda kappa)
Wprowadzenie do SPC
Miary wykorzystywane w statystyce
Kwalifikacja i analiza procesu (Cm, Cmk,Cp,Cpk,Pp,Ppk)

Cena szkoleń obejmuje:
- udział w szkoleniu,
- materiały szkoleniowe
- certyfikat uczestnictwa w szkoleniu,
- obiad, przerwy kawowe

Zgłoszenia można przesyłać na adres:
office@igel-cmm.com

Zapraszamy do udziału także w innych szkoleniach!
https://www.igel-cmm.com/szkolenie-system-zarzadzania-jakoscia